Conectare

Întâmpinăm dificultăţi tehnice. . Formularul dumneavoastră nu a fost preluat cu succes. Vă rugăm să acceptaţi scuzele noastre şi să încercaţi încă odată mai târziu. Detalii: [details]

Download

Înregistrare

Întâmpinăm dificultăţi tehnice. . Formularul dumneavoastră nu a fost preluat cu succes. Vă rugăm să acceptaţi scuzele noastre şi să încercaţi încă odată mai târziu. Detalii: [details]

Download

Vă mulţumim pentru că v-aţi înregistrat la Omron

Un mesaj e-mail pentru finalizarea creării contului dvs. a fost trimis la

Întoarceți-vă la site-ul web

să obţineţi accesul direct

Completaţi-vă detaliile mai jos şi obţineţi accesul direct la conţinutul de pe această pagină

Text error notification

Text error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Întâmpinăm dificultăţi tehnice. . Formularul dumneavoastră nu a fost preluat cu succes. Vă rugăm să acceptaţi scuzele noastre şi să încercaţi încă odată mai târziu. Detalii: [details]

Download

Vă mulţumim pentru interesul dvs.

Acum aveţi acces la Urmărirea FOUP-urilor în procesul de fabricaţie a semiconductorilor

A fost trimis un mesaj e-mail de confirmare la

Continuaţi la pagină

Vă rugăm să vă sau să obţineţi accesul direct pentru a descărca acest document.

Urmărirea FOUP-urilor în producţia de semiconductori este importantă pentru controlul contaminării, optimizarea proceselor, îmbunătăţirea randamentului, controlul calităţii şi conformitatea. Asigură protecţia microplăcuţelor, optimizează fluxul de lucru, îmbunătăţeşte randamentul şi menţine calitatea.

Aplicaţie: Urmărire FOUP

Urmărirea eficientă a FOUP-urilor în producţia de semiconductori poate fi dificilă din cauza complexităţii gestionării numeroaselor FOUP-uri, gestionării unor cantităţi mari de date, integrării cu sistemele existente, asigurării preciziei automatizării, gestionării factorilor de mediu şi respectării standardelor din industrie.

Soluţia noastră: RFID pentru trasabilitatea completă a proceselor

Tehnologia RFID de la OMRON oferă caracteristici specializate pentru aplicaţii cu semiconductori, inclusiv rezistenţă chimică, compatibilitate cu transpondere standardizate din sticlă de la Texas Instruments (citire şi scriere) şi suport pentru protocolul SECS I/II.

Această soluţie avansată acceptă cinci standarde SEMI şi SECS/GEM, asigurând manipularea consecventă a FOUP-urilor şi a capsulelor în fabricarea semiconductoarelor. Adaptată pentru SEMI, această tehnologie îmbunătăţeşte protecţia sub formă de microplăcuţe, optimizează fluxul de lucru şi îmbunătăţeşte randamentul şi calitatea.

Tehnologii generice

V640 SEMI

Aplicaţiile de semiconductori necesită caracteristici speciale ale produsului în ceea ce priveşte rezistenţa chimică şi protocolul pentru sistemele de identificare. V640 de la OMRON este capabil să asigure comunicarea, de exemplu, atât cu transpondere standardizate din sticlă de la Texas Instruments, cât şi cu protocolul SECS I/II.

Produse conexe

Doriţi să ştiţi mai multe?

Contactaţi experţii noştri

+40 356 172 242
Contactaţi-ne

Contactați-mă Trasabilitate FOUP sub formă de microplăcuţe

digital semiconductors applications wafer foup traceability fcard sol

Vă rugăm completaţi toate câmpurile marcate cu *. Datele dumneavoastră personale vor fi tratate cu confidențialitate.

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Text error notification

Country error notification

Text area error notification

Checkbox error notification

Checkbox error notification

Vă mulțumim pentru solicitarea trimisă. Vom reveni cu un răspuns cât mai curând posibil.

Întâmpinăm dificultăţi tehnice. . Formularul dumneavoastră nu a fost preluat cu succes. Vă rugăm să acceptaţi scuzele noastre şi să încercaţi încă odată mai târziu. Detalii: [details]

Download
+40 356 172 242
+40 356 172 242